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世界初の3DICテストチップ、アルテラとTSMCが共同開発


ニュース 電子 作成日:2012年3月23日_記事番号:T00036138

世界初の3DICテストチップ、アルテラとTSMCが共同開発

 台湾積体電路製造(TSMC)は22日、同社のCoWoS(Chip on Wafer on Substrate)技術が米半導体メーカーのアルテラに採用され、両社共同で世界初の3次元IC(3DIC)のテストチップを開発したと発表した。23日付経済日報が報じた。

 3DICは複数のチップをシングルチップ上に3次元積層するもので、アナログ、ロジック、メモリなど、種類の異なるチップを一つのデバイスとして集積でき、新たな技術革新として期待されている。TSMCは2013年初頭に、3DICの組立サービスを開始する予定だ。

 TSMCは、アルテラは設計する3DICによってFPGA(フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ)の技術的優位性をさらに強化し、消費電力およびコストの低下、製品の小型化などのメリットを顧客に提供できるとコメントした。