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半導体検査装置のエルメス、南科新工場が14年稼働へ


ニュース 電子 作成日:2013年7月1日_記事番号:T00044495

半導体検査装置のエルメス、南科新工場が14年稼働へ

 半導体ウエハーの電子ビーム検査装置大手、漢民微測科技(エルメス・マイクロビジョン、HMI)は28日、南部科学工業園区(南科)で新工場のくわ入れ式を行った。敷地面積は6,000坪、2014年第3四半期の完工、第4四半期の生産開始を予定しており、生産能力は現在の3倍以上だ。投資額は2年で10億台湾元(約33億円)。1日付電子時報などが報じた。

 招允佳総経理は、半導体プロセスの微細化進行に伴い、ウエハー検査装置の需要も増え続けると指摘。同社は現在14年分まで受注があり、同年の出荷台数は13年を上回ると述べた。また、15年にはシリコン貫通電極(TSV)技術を使用した3D−ICが量産される見通しで、同社は現在、対応する電子ビーム検査装置の研究開発(R&D)を行っている。