半導体検査装置メーカー、中華精測科技（ＣＨＰＴ）が26日発表した半導体検査用プローブカードの第１四半期売上高に占める各製造プロセスの割合は、７ナノメートル向けが前期比40ポイント上昇し、過去最高の79％に達した。一方、10ナノ向けは43ポイント下落し５％だった。半導体先端製造プロセスの10ナノから７ナノへの移行を示すものだ。27日付経済日報が報じた。
同社の第１四半期売上高は７億4,200万台湾元（約27億4,000万円）で、前期比36％増、前年同期比６％減だった。粗利益率は55.4％で、前期比1.3ポイント上昇、前年同期比１ポイント上昇した。純利益は１億6,700万元で、前期比48％増、前年同期比11％減だった。
証券会社は、第２四半期の売上高は前期比13～14％増加し、昨年と同水準になると予測した。
